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空間分辨力測試卡
產品型號：WEK35391-2017
更新時間：2026-04-14
簡要描述：WEK35391-2017空間分辨力測試卡,WEK35391-2017分辨力測試卡每個線對組由4塊規格尺寸相同的薄片平行排列構成（薄片之間用與薄片等厚的金屬隔片隔開），兩側放置最厚薄片的2倍厚度的校準塊，每組線對卡里面的金屬片組間隔為2.5mm。
產品詳情
| 品牌 | 眾?？?/td> | 產地 | 國產 |
|---|
WEK35391-2017空間分辨力測試卡,WEK35391-2017分辨力測試卡每個線對組由4塊規格尺寸相同的薄片平行排列構成（薄片之間用與薄片等厚的金屬隔片隔開），兩側放置最厚薄片的2倍厚度的校準塊，每組線對卡里面的金屬片組間隔為2.5mm。
WEK35391-2017空間分辨力 測試卡,WEK35391-2017分辨力測試卡符合《GB/T 35391-2017無損檢測 工業計算機層析成像(CT)檢測用空間分辨力 測試卡》要求
線對卡,按分辨力高低分為三種:
1)Ⅲ級線對卡
2)Ⅱ級線對卡
3)工級線對卡;
線對卡是用來測試工業CT系統空間分辨力的一種標準試件,它是由鋼、硅或其他由供需雙方商定的材料制作的薄片構成的線對組,每個線對組由4塊規格尺寸相同的薄片平行排列構成(薄片之間用與薄片等厚的金屬隔片隔開),兩側放置最厚薄片的2倍厚度的校準塊,其三維結構如圖1、正視圖如圖2所示。
WEK35391-2017空間分辨力 測試卡,WEK35391-2017分辨力測試卡實物拍攝圖：
WEK35391-2017空間分辨力 測試卡,WEK35391-2017分辨力測試卡參數規格：
每個線對組中的薄片厚度為T，相鄰片間隙寬度(金屬隔片厚度)也為 T。各種等級線對卡的薄片厚度 T 及其對應的線對數見表 A.1。
每個線對組中的薄片長度L 為10mm，寬度W為8mm。
等級 | 第1組 | 第2組 | 第3組 | 第4組 | 第5組 | |||||
片厚T mm | 線對數 Lp/mm | 片厚T mm | 線對數 Lp/mm | 片厚T mm | 線對數 Lp/mm | 片厚T mm | 線對數 Lp/mm | 片厚T mm | 線對數 Lp/mm | |
Ⅲ級 | 0.100 | 5.0 | 0.125 | 4.0 | 0.150 | 3.3 | 0.200 | 2.5 | 0.250 | 2.0 |
Ⅱ級 | 0.150 | 3.3 | 0.200 | 2.5 | 0.250 | 2.0 | 0.300 | 1.7 | 0.500 | 1.0 |
Ⅰ級 | 0.250 | 2.0 | 0.300 | 1.7 | 0.500 | 1.0 | 0.650 | 0.8 | 1.000 | 0.5 |
每個線對組中的薄片長度L 為10mm，寬度W為8mm。
外型尺寸長(L)，寬(W)，高(H)，單位：mm。
| 圖片 |  |  |  |
等級 | Ⅰ級 | Ⅱ級 | Ⅲ級 |
| 線對 | 0.5至2.0LP/m | 1.0至3.3LP/m | 2.0至5.0LP/m |
| 尺寸（mm） | 45Lx26Wx20H | 33Lx26Wx20H | 30Lx26Wx20H |
圓孔卡或細絲卡,按孔徑或絲徑大小分為兩種:
1)Ⅱ級圓孔卡或Ⅱ級細絲卡
2)工級圓孔卡或I級細絲卡;
WEK35391-2017圓盤卡
圓孔卡是在均質圓柱形基體上,加工一系列直徑不同的圓形孔,圓孔按行有序排列,其結構如圖3所示。細絲卡是在均勻低密度圓柱形基體上,排列一系列直徑不同的細絲,細絲按行有序排列。圓盤卡是由均質的剛性材料制作的圓柱體,其結構如下圖所示。圓盤卡材質應與被檢測物體的射線吸收特性相同或相近,推薦使用鋼或硅(或由供需雙方商定的材料制作)。
GBT35386-2017空氣間隙試塊
空氣間隙試塊是在均質剛性基體材料[一般為鋼(例如 Q235)、鋁(如 3003)、聚丙烯]中人工制造一定直徑和高度的空氣間隙，使得切片厚度內的局部平均密度發生變化，從而測試密度分辨力。其基本結構如圖 A.5所示。
基體是由兩個高密度圓柱體組成，高度在15mm以上。凹槽直徑φ不小于20mm圓柱體直徑可根據實際情況規定，一般不小于 3φ，凹槽深度 h根據切片厚度 .和實際情況確定。
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